AWG401X 300MHz 任意函數波形發生器 信號發生器

2002年，意大利費拉拉大學的工程師創建了AT公司，工 程師團隊具有豐富的半導體測試和創新儀器設計的經驗。AT 通過使用顛覆性和創新性的DAC(16bit@16Gs/s)技術設計， 為業界提供了優良的信號模擬方案。這允許產生非常復雜的 信號，結合可控抖動，噪聲和其他信號損傷。

AWG401X 300MHz 任意函數波形發生器應用于無線信號基帶生成（5G,WiFi,IoT,Radar,Sonar），科學研究（量子計算），半導體芯片測試（ADC/DAC,FPGA,MCU,DSP等），半導體芯片測試（MCU,FPGA,邏輯芯片,圖像傳感器芯片等），也是一款四合一信號發生器。

AWG401X 300MHz 任意函數波形發生器主要參數

● 帶寬： 300MHz

● DAC位數： 14位

● 采樣率： 1S/s - 1.2Gs/s

● 模擬道數： 2/4/8個

● 輸出阻抗： 50Ω/5Ω切換

● 數字通道： 8/16/32個(選件）

● 上升/下降時間： <1.1ns

● 存儲深度： MAX128M（選件）

● 輸出電壓： MAX0-12Vpp@50Ω(選件)

● 輸出電流： MAX400mA

● 輸出波形： 雙脈沖及各種調制信號

● 串行碼型發生: PRBS信號,速率300Mbps

● 波形序列產生： 1-16384

● 主機平臺： Windows 10操作系統，7寸彩色觸摸屏

● 設備級聯同步： 32個模擬通道，128個數字通道

AWG401X任意波形發生器*能力

● 硬件偏置電壓，寬范圍電壓輸出

● 5Ω輸出阻抗，支持大電流輸出

● 作為半導體芯片的Vcc電源（大電流400mA） 

    電源開/關序列產生（納秒級別上升/下降時間）

    電源加噪聲（電源加DC-200MHz帶寬白噪聲，任意波噪聲等）

●  GaN/SiC/IGBT/MOSFET器件驅動測試

    Vdd驅動信號，大電壓可以 到15-20V，納秒級別上升/下 降時間

    Ramp信號產生，噪聲信號產 生，Ramp+噪聲信號產生

    雙脈沖產生

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