LANGER EMV-Technik SX近場探頭組 信號分析儀

LANGER EMV-Technik SX近場探頭組包含2個無源近場探頭，用于在研發(fā)階段以高時鐘頻率測量電子模塊上的電場和磁場，頻率范圍為1GHz到10GHz。SX探頭組的探頭可以緊貼電子模塊進行測量，比如貼近單個集成電路引腳、導線、元件及其連接點，從而定位干擾信號源。通過相應地操作近場探頭，能夠測量出電子模塊上電磁場的方向及其分布。這種近場探頭小巧輕便，并具備外皮電流衰減和電屏蔽。 這種近場探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50Ω輸入端。探頭內(nèi)部有一個終端電阻。

LANGER EMV-Technik SX近場探頭組產(chǎn)品內(nèi)容：

1xSX-E 03, 電場探頭（1GHz-10GHz）

1xSX-R 3-1, 磁場探頭（1GHz-10GHz）

1xSMA-SMA 1 m, SMA-SMA 測量電纜

1xCase 4

LANGER EMV-Technik SX近場探頭組技術參數(shù)

頻率范圍:1 GHz - 10 GHz

接口類型：SMA, female, jack

重量：200 g

LANGER EMV-Technik SX近場探頭組產(chǎn)品簡介：

SX-E 03型探頭底部的電極尺寸約為4x4mm，用于檢測定位很小的電場源，例如導線、集成電路板上的單個元器件。

SX-R 3-1型磁場探頭尺寸小，用于高分辨率測量高頻磁場，因而能夠識別出作為潛在干擾源的小元件。此外，由于探頭尺寸小，適于測量很難靠近的位置，例如集成電路引腳的周圍區(qū)域。