EMI天線有哪兩類傳導性干擾因素

　　EMI天線有哪兩類傳導性干擾因素
　　
　　EMI天線干擾可以來自某個不定向發(fā)射源以及某個無意形成的天線。傳導性EMI干擾也可以來自某個輻射EMI干擾源，或者由一些電路板組件引起。一旦您的電路板接收到傳導性干擾，它便駐入應用電路的PCB線跡。常見的一些輻射EMI干擾源包括以前文章中談及的組件，以及板上開關式電源、連接線和開關或者時鐘網絡。
　　
　　傳導性EMI天線干擾是開關電路正常工作與寄生電容和電感共同作用產生的結果。圖1顯示了一些會進入到您的PCB線跡中的EMI干擾源情況。Vemi1源自開關網絡，例如：時鐘信號或者數字信號線跡等。這些干擾源的耦合方式均為通過線跡之間的寄生電容。這些信號將電流尖脈沖帶入鄰近PCB線跡。同樣，Vemi2源自開關網絡，或者來自PCB上的某個天線。這些干擾源的耦合方式均為通過線跡之間的寄生電感。該信號將電壓擾動帶入鄰近PCB線跡。每三個EMI天線源來自于線纜內相鄰的導線。沿這些導線傳播的信號可產生串擾效應。
　　
　　開關式電源產生信號。開關式電源產生的干擾駐存在電源線跡上，并以信號的形式出現。
　　
　　在正常運行期間，開關式電源(SMPS)電路為傳導性EMI天線的形成帶來機會。這些電源內的“開”和“關”切換操作，會產生較強的非連續(xù)性電流。這些非連續(xù)性電流存在于降壓轉換器的輸入端、升壓轉換器的輸出端，以及反激和降升壓拓撲結構的輸入和輸出端。開關動作引起的非連續(xù)性電流會產生電壓紋波，其通過PCB線跡傳播至系統(tǒng)的其它部分。
　　
　　EMI天線共有兩類傳導性干擾：差模干擾和共模干擾。差模干擾信號出現在電路輸入端之間，例如：信號和接地等。電流流經同相的兩個輸入端。但是，1號電流輸入大小與2號相等，但方向相反（差動參考）。這兩個輸入端的負載，形成一個隨電流強弱變化的電壓。線跡1和差分基準之間的這種電壓變化，在系統(tǒng)中形成干擾或者通信誤差。
　　
　　在您向電路添加一個接地環(huán)路或者不良電流通路時，便出現共模干擾。如果存在某個干擾源，則線跡1和線跡2上形成共模電流和共模電壓，而接地環(huán)路充當一個共模干擾源。差模干擾和共模干擾都要求使用特殊的濾波器，來應對EMI干擾的不利影響。